在众多涉及薄膜材料的行业中，如包装、电子、新能源等，薄膜厚度的精确测量对产品质量把控起着关键作用。薄膜厚度的均匀性与准确性直接关联产品的性能、使用寿命以及安全性。机械接触式薄膜测厚仪凭借其优势，成为广泛应用的厚度测量设备。

一、机械接触式薄膜测厚仪检测方法

（一）工作原理

机械接触式薄膜测厚仪主要基于接触测量原理运作。仪器配备高精度的测量头，在测量时，测量头缓缓下降与薄膜表面接触，并施加一个恒定、精准的压力。在这一压力作用下，薄膜表面产生微小形变，测量头随之产生位移。通过高精密的位移传感器，仪器能够精准记录测量头的位移量，而这一位移量恰好等同于薄膜在压力下的形变量，经系统计算，即可得出薄膜的厚度值 。例如在塑料薄膜检测中，常见的面接触式探头，其与薄膜的接触面积是固定的，配合稳定的压力施加系统，确保每次测量条件一致，提升测量结果的准确性与重复性。

（二）操作流程

1. 样品准备：从待检测的薄膜卷材或片材中，依据相关标准，裁剪出尺寸合适的试样。试样应保持表面平整，无褶皱、划伤、杂质附着等情况，避免影响测量精度。如检测食品包装用塑料薄膜，通常将试样裁剪成长宽约 50mm×50mm 的正方形。

2. 仪器校准：在正式测量前，需使用标准厚度的校准片对测厚仪进行校准。将校准片放置在测量平台上，启动测厚仪，测量头与校准片接触，仪器自动读取并记录校准片厚度数据，与已知的校准片标准厚度对比，对测量误差进行修正，确保后续测量的准确性。

3. 固定试样：把准备好的试样平稳放置在测厚仪的测量平台上，使用配套的夹具将试样固定牢固，防止在测量过程中试样发生位移、滑动等情况，影响测量结果。

4. 接触测量：开启测厚仪，测量头在传动装置带动下，按照设定速度自动下降与试样表面接触，并施加标准规定压力，一般压力范围控制在 17.5±1kPa。测量头依据试样厚度产生相应位移，位移数据被传感器实时采集。

5. 数据读取与记录：测厚仪内部的数据处理系统对传感器采集到的位移数据进行运算，得出薄膜厚度值，并在显示屏上清晰显示。操作人员读取数据后，将其准确记录在专用的数据记录表中。为保证数据代表性，通常在同一试样上选取多个测量点进行测量，取平均值作为该试样的最终厚度值 。

二、山东泉科瑞达仪器推荐 ——CHY - 02H 薄膜测厚仪

（一）仪器特性

1. 超高精度测量：CHY - 02H 采用品牌位移传感器，分辨率高达 0.1μm，能捕捉薄膜厚度的细微变化。

2. 稳定性与重复性：通过科学、稳固的结构设计以及高精测控技术，有效减少外界干扰对测量结果的影响，实现接触式厚度测试的高稳定性与重复性，。

3. 智能化操作体验：配备 7 寸大触控屏，操作界面简洁直观。

4. 强大的数据处理功能：支持多级用户权限管理，保障数据安全。可对历史测试数据进行便捷查询与导出，方便数据追溯与分析。

（二）应用领域

1. 包装行业：适用于塑料薄膜、薄片、药用复合硬片等包装材料的厚度检测，确保包装材料厚度符合相关标准，保障产品包装质量，满足 ISO 4591 等国际标准对包装材料厚度测量的要求。例如在药品包装中，准确控制药用复合硬片厚度，避免因厚度不均导致阻隔性能缺陷，影响药品质量与保质期。

2. 电子行业：可用于电容器薄膜、半导体生产中的硅片、金属片等材料的厚度测量。在电容器薄膜生产中，精确控制薄膜厚度，有助于提升电容器的性能与稳定性。

3. 新能源行业：在锂电池隔膜生产中，通过检测隔膜厚度均匀性，确保电池的安全性、能量密度及循环寿命。CHY - 02H 能快速完成整卷隔膜关键区域检测，生成厚度分布图，快速定位厚度异常点，为生产工艺优化提供数据支持。

山东泉科瑞达的 CHY - 02H 薄膜测厚仪，凭借在机械接触式测量方法上的深度应用与创新，成为众多行业进行薄膜厚度精确测量的得力工具，助力企业提升产品质量，推动行业高质量发展。