随着现代工业的发展,塑料薄膜和薄片在包装、建筑、电子等多个领域得到了广泛应用。为了确保这些材料的质量和性能,对其厚度的精确测量显得尤为重要。GB/T 6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度测定 机械测量法》作为我国的国家标准,为塑料薄膜和薄片厚度的测定提供了科学、规范的方法。本文将介绍依据该标准,薄膜测厚仪在塑料薄膜和薄片厚度测定中的应用。
GB/T 6672-2001标准规定了使用机械测量法测定塑料薄膜或薄片样品厚度的方法。该标准适用于厚度在0.025mm至1mm之间的塑料薄膜或薄片样品,但不适用于压花的薄膜或薄片。标准中详细规定了测量设备的要求、样品的制备与处理、测量步骤与方法以及结果的报告等内容,为薄膜厚度的准确测定提供了全面的技术依据。
薄膜测厚仪依据GB/T 6672-2001标准,主要采用机械接触式测量原理。其工作原理是通过高精度传感器与薄膜表面接触,在预定的静态负荷下,测量传感器的位移来确定薄膜的厚度。这种测量方法具有高精度和重复性,适用于各种材料的厚度测量,包括塑料薄膜、纸张、箔片等。
根据GB/T 6672-2001标准,薄膜测厚仪应满足一定的精度要求。例如,在100μm内(包括100μm),精度为1μm;在250μm以上,精度为3μm。此外,测量仪的测量面应抛光处理,上下测量面可为平面/平面或凸面/平面组合,且应满足一定的尺寸和平行度要求。标准还强调了仪器校准的重要性,并给出了具体的校准方法指导,以确保测量结果的准确性。
在进行薄膜厚度测定前,需对样品进行严格的制备与处理。根据GB/T 6672-2001标准,样品应在距样品纵向端部大约1m处,沿横向整个宽度截取,试样宽100mm。除为提交或包装而折叠样品外,试样应无折皱、无其他缺陷,并在(23±2)°C条件下状态调节至少1小时。对于湿敏薄膜,状态调节时间和环境应按被测材料的规范或供需双方协商确定。
依据GB/T 6672-2001标准,薄膜厚度的测量步骤主要包括:确定测量位置、平缓放下测头、记录测量数据等。测量位置应按等分试样长度的方法确定,具体测量点数根据试样长度而定。测量时应确保测头平缓放下,避免试样变形,并记录下每个测量点的厚度值。最后,通过计算平均值和标准偏差来评估塑料薄膜或薄片的厚度均匀性和一致性。
测量完成后,应根据GB/T 6672-2001标准的要求,对测量结果进行报告。报告应包括测量条件、测量设备、测量数据、平均值、标准偏差等信息。这些结果不仅可用于评估塑料薄膜和薄片的质量,还可为相关产品的国际贸易提供技术依据和便利。
GB/T 6672-2001标准为塑料薄膜和薄片厚度的测定提供了科学、规范的方法。薄膜测厚仪依据该标准,通过机械接触式测量原理,能够精确测定塑料薄膜和薄片的厚度。这不仅有助于确保产品质量,提高市场竞争力,还推动了相关产业的健康发展。随着科技的进步和工业的发展,薄膜测厚仪将继续在塑料薄膜和薄片厚度测定中发挥重要作用。